カテゴリー: EMC指令(電磁環境適合性)

＊デジタルマルチメータ,オシロスコープなどの感受性の高い計測を行う計測器のEMC規格は、IEC 61326-2-1である。

・機器の例としては、オシロスコープ、ロジックアナライザ、スペクトラムアナライザ、ネットワークアナライザ、アナログ機器、デジタルマルチメータ（DMM）、ボードテストシステムなどが該当する。
・製造者が使用上・機能上からEMC保護ができない試験・測定回路（機器の内部または外部，あるいはその両方）を有する機器が該当する。
・本規格（IEC 61326-2-1)は，IEC 61326－1（共通規格）より、これらの機器の固有な試験構成，運用条件，および性能基準を規定している。
・EMC指令ではEN 61326-2-1が該当する。

＊本規格の個別の要求内容は以下です。

1.  5.2.4.101項： 試験・計測用のI/Oポート
  ①試験および測定用の入力ポートは、製品のエミッションおよびイミュニティ性能の測定に適さない動作状態になる場合を除き、キャップおよびショートしなければならない。
・入力信号が必要な場合は、メーカーが指定するテストリードやプローブを用いて適切な入力信号を印加すること。
・EUT の本質的な機能を評価するために必要とされない試験および測定出力ポートは、キャップおよび／ま たは終端処理されるものとする。
②静電気放電は、シールドされたポートまたはケーブル・コネクタの内部ピンではなく、「ハウジング・シールド に印加すること」とする。
・この静電気試験の例：以下のようなもの。
　BNC、D-subminiature、IEEE 488（IEC 60488）、R8232およびIEEE 1284-B（パラレルプリンタポート）など。
③注1
・試験中に入力信号を試験・計測ポートに印加するために使用しないプローブやテストリードは、接続する必要はない。
(このようなテストリードは、アプリケーションによって大きく異なり、また、カバーが取り外された機器に接続されることが多く、内部のテストポイントにアクセスするために様々な段階で分解されることがあります。接続されたテストリードは、特定の用途において、エミッションを増加させたり、イミュニティを低下させたりする可能性があるため。)
④注2
・キャップとは、局所的にスクリーンやシールドで覆うこと。

2.　5.3.101項： 動作条件
・(1)バッテリとAC電源の両方のオプションが利用可能な場合，両方の動作モードに適合すること。
3.　5.3.102項： オシロスコープ
オシロスコープのポートは、最大掃引速度、最大感度、連続取得モードに設定しなければならない。ただし、他のモードでは通常の用途では最悪のエミッションまたはイミュニティの結果となることが知られている場合はこの限りではない。
4.　5.3.103項： ロジックアナライザー
・ロジックアナライザは、エミッション測定時にはデータ解析モードに設定し、イミュニティ試験時には連続データ収集モードに設定しなければならない。
・ただし、他のモードでは通常のアプリケーションにおいて最悪のエミッションまたはイミュニティの結果が得られることが知られている場合はこの限りではない。
5.　5.3.104項： デジタルマルチメータ（DMM)
・代表的な設定としては、ピーク検出、最大感度（通常はオートレンジがあればそれでよい）、連続取得モードなどがある。
6.　5.3.105項： その他の機器
・5.3.102～5.3.104に記載されていない同様な仕様の機器については、以下の理念を適用するものとする。
・機器のすべての機能ではなく、最も典型的な機能のみを試験できることを考慮して、代表的な動作モードを 選択すること。
・通常の使用における推定ワーストケースの動作モードを選択すること。
7.　6.4.101項： 過渡的な電磁現象を伴う試験
・IEC 61326-1 の表 1、2 又は 3 の性能基準 B に割り当てられた過渡的な電磁現象を伴う試験の間、 EUT は機能又は性能の一時的な劣化又は喪失があるかもしれないが、それは自己回復すること。
・10 秒を超える自己回復時間は，製造者がユーザのために機器の文書で規定しなければならない。
・トリガー機能は評価する必要はない。
・実際の動作状態の変化や保存データの損失は許されない。
8.　9.101項：  使用上の注意の追加
・製造業者は，テストリード及び／又はテストプローブを接続した場合，その機器がこの規格のイミュ ニティ要件を満たさない可能性があるという情報を提供し，妨害の影響を最小化するためにテストリード及び／ 又はテストプローブをどのように使用するかの指針を追加しなればならない。

＊「ESTCJ」では本規格(IEC61326-2-1)や計測・制御・試験室機器のEMC評価の支援などを行っております。
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